![](http://img79.chem17.com/gxhpic_6d392a219e/5f8c4cffcfd3c26a2f5f0f19d52d8427f98b65bc7e9257d1b41454ab3358046372914b6f376008a1.png)
MEGGER直流電阻測試儀技術參數參照
MEGGER直流電阻測試儀技術參數參照Megger新系列的直流絕緣電阻測試儀針對的用戶是原始設備制造商和工業企業。型號MIT1525能夠執行 15 kV的絕緣電阻測試,最大測試電阻可達30 TΩ,1 MΩ — 3 TΩ范圍內精度為±5%。MIT 515提供IR、DAR和(he)PI功(gong)(gong)能,但(dan)是(shi)不提供(gong)存儲功(gong)(gong)能。
MEGGER直流電阻測試儀技術參數參照
Megger新系列的直流絕緣電(dian)(dian)阻測試儀針對(dui)的用(yong)戶(hu)是原始設備制造(zao)商和工業(ye)(ye)企業(ye)(ye)。型(xing)號MIT1525能夠執(zhi)行(xing) 15 kV的絕緣電(dian)(dian)阻測試,最大測試電(dian)(dian)阻可達30 TΩ,1 MΩ — 3 TΩ范圍內精度為±5%。MIT 515提供(gong)IR、DAR
和PI功能(neng),但是不提供存儲功能(neng)。MIT525、MIT1025和MIT1525擁有(you)完整的測試模式以及板載(zai)內存,以及將數(shu)據(ju)上(shang)傳到電腦的功能(neng)。
儀(yi)器(qi)的(de)使用(yong)效率是新MIT系列的(de)側重點。儀(yi)器(qi)在電(dian)池用(yong)盡的(de)情況下可以(yi)使用(yong)AC電(dian)源(yuan)進行(xing)供(gong)電(dian),快速充電(dian)電(dian)池使儀(yi)器(qi)充電(dian)30分鐘后可使用(yong)超過一(yi)小時。
MIT系列的(de)安(an)全等(deng)級(ji)并未打折扣,海拔3000米以內,5 kV和(he)10 kV型(xing)號(hao)的(de)安(an)全等(deng)級(ji)為CAT IV 600 V,15 kV的(de)安(an)全等(deng)級(ji)為CAT IV 1000 V。5 kV和(he)10 kV型(xing)號(hao)有多重測(ce)試(shi)(shi)線(xian)供(gong)選(xuan)擇(ze),15 kV型(xing)號(hao)配有特殊的(de)雙層絕緣(yuan)測(ce)試(shi)(shi)線(xian),以及(ji)防漏(lou)電的(de)夾子。測(ce)試(shi)(shi)線(xian)裝在帆布(bu)包內。進(jin)行(xing)測(ce)試(shi)(shi)時,應(ying)按照(zhao)相應(ying)的(de)標(biao)準佩戴高壓手(shou)套以及(ji)其他安(an)全保護設備。
MIT系列為雙殼設計,其堅硬的外(wai)殼能(neng)防(fang)止撞擊,內殼能(neng)起到防(fang)火(huo)緩沖的作用。合上蓋(gai)子是(shi)防(fang)水防(fang)塵(chen)等級(ji)為IP
65。
直觀的用(yong)戶界面使用(yong)戶不必花時間記下(xia)如(ru)何操作(zuo)。兩個旋轉開關可(ke)以(yi)實現(xian)操作(zuo)的簡(jian)易性,大的背(bei)光屏可(ke)以(yi)同時顯示多個測(ce)試結果。蓋子里有快速(su)入門(men)指導,輔(fu)助第(di)一次(ci)使用(yong)此設備的用(yong)戶。
MEGGER直流電阻測試儀使用載降壓測量法應注意的以下幾點:
(1)不同型號數(shu)字萬用(yong)表電阻(zu)擋的滿量程測(ce)試電壓以及開路電壓有所(suo)不同,所(suo)以加(jia)載(zai)電阻(zu)R1的取值范(fan)圍應由實驗來(lai)確定。
(2)操作時應先在(zai)數字萬(wan)用表(biao)(biao)V/Ω與COM插孔之(zhi)間跨接好加(jia)載電(dian)阻R1并由數字萬(wan)用表(biao)(biao)在(zai)該電(dian)阻擋讀出(chu)R1的(de)實測(ce)值后方可(ke)進行在(zai)線電(dian)阻的(de)測(ce)量(liang)。不(bu)能先接被測(ce)電(dian)路(lu)后并聯電(dian)阻R1,這會因數字萬(wan)用表(biao)(biao)電(dian)阻擋的(de)測(ce)試電(dian)壓較高(gao)而(er)便被測(ce)線路(lu)中的(de)硅管趨于導通而(er)失去測(ce)量(liang)意(yi)義(產生較大的(de)測(ce)量(liang)誤(wu)差(cha))。所以,這個順序不(bu)能顛倒。
(3)由于一般(ban)的(de)(de)電路(lu)(lu)中(zhong)與(yu)晶(jing)體(ti)(ti)管發射結、集電結相(xiang)并聯的(de)(de)電阻阻值多為kΩ~幾(ji)百kΩ,而幾(ji)十(shi)歐姆的(de)(de)很少,所以在線(xian)測量時通常(chang)先將數字萬用表置中(zhong)阻擋(dang),即200kΩ擋(dang)(此擋(dang)的(de)(de)分(fen)辨率為0.1kΩ)或20kΩ擋(dang)。若測得R=R1.RX/(R1+RX)為O或很小(xiao),則說(shuo)明(ming)被測電路(lu)(lu)有(you)短(duan)路(lu)(lu)故(gu)障(RX=0)或量程偏(pian)高,此時應改用低阻擋(dang)(2kΩ擋(dang))細(xi)測。若測得R=R1.RX/(R1+RX)與(yu)R1很接近,則說(shuo)明(ming)被測電路(lu)(lu)可能存在開路(lu)(lu)故(gu)障(RX=∞)或量程偏(pian)低,應換用高阻擋(dang)(2WΩ擋(dang))復測。
(4)在線測量(liang)一(yi)般(ban)(ban)很少用200Ω電(dian)(dian)阻(zu)(zu)擋(dang)(dang)(dang)和(he)20MΩ擋(dang)(dang)(dang)。因為(wei)加(jia)載電(dian)(dian)阻(zu)(zu)R1與被測電(dian)(dian)阻(zu)(zu)RX并聯,實際(ji)上已(yi)經(jing)擴展了電(dian)(dian)阻(zu)(zu)擋(dang)(dang)(dang)的(de)(de)(de)測量(liang)范圍,提高了測量(liang)高阻(zu)(zu)的(de)(de)(de)能力,所(suo)以(yi)一(yi)般(ban)(ban)使用2MΩ擋(dang)(dang)(dang)已(yi)經(jing)足夠了。另外(wai),由于2kΩ擋(dang)(dang)(dang)的(de)(de)(de)分辨(bian)率為(wei)1Ω,用該擋(dang)(dang)(dang)判(pan)斷被沒電(dian)(dian)路的(de)(de)(de)在線晶體管是否存在短路擊(ji)穿也已(yi)夠用了。一(yi)般(ban)(ban)情況不(bu)僅用三只加(jia)載電(dian)(dian)阻(zu)(zu)就能滿(man)足測量(liang)在線電(dian)(dian)阻(zu)(zu)的(de)(de)(de)需要(yao)。以(yi)DT830A型數字(zi)萬用表(biao)為(wei)例(li),其2kΩ擋(dang)(dang)(dang)取R1=R0=1kΩ,200kΩ擋(dang)(dang)(dang)取R1=0.47RO=47kΩ,2MΩ擋(dang)(dang)(dang)取R1=0.47R0=470kΩ。當然我(wo)們也可(ke)以(yi)用一(yi)只470kΩ的(de)(de)(de)電(dian)(dian)位器代(dai)替以(yi)上三只加(jia)載電(dian)(dian)阻(zu)(zu)。
(5)測完在(zai)線電(dian)阻后切莫志記及時去掉跨接在(zai)數(shu)字萬用表(biao)(biao)V/Ω與COM插孔(kong)之間的加載(zai)電(dian)阻R1以免(mian)影響(xiang)萬用表(biao)(biao)的正(zheng)常使用和發生意外(測量(liang)高壓時)
MEGGER所測絕緣電阻的準確性,與測量方法和測量時的天氣情況有非常密切的關系,測量時應注意以下事項:
1. 測量條件。選擇溫度(du)在5℃以上,濕(shi)度(du)在70%以下的天氣進行測量;
2. 測(ce)量電(dian)壓(ya)。搖(yao)測(ce)配(pei)變(bian)絕緣(yuan)電(dian)阻應使用(yong)(yong)1000V或2500V的兆歐表(biao),對變(bian)壓(ya)器歷次絕緣(yuan)電(dian)阻進行比(bi)較時,所(suo)用(yong)(yong)搖(yao)表(biao)應為(wei)相(xiang)間電(dian)壓(ya)等級;
3. 測(ce)量(liang)項目(mu)。應測(ce)量(liang)配變一次(ci)繞組(zu)對(dui)二次(ci)繞組(zu),一次(ci)繞組(zu)對(dui)地(配變鐵芯(xin)或外殼)和(he)二次(ci)繞組(zu)對(dui)地的絕緣電阻值;
4. 測(ce)量安全。測(ce)量前(qian)后,應(ying)將配變(bian)一次側(ce)和二(er)次側(ce)各出(chu)線(xian)端分(fen)別接(jie)地放電(dian),零線(xian)亦應(ying)斷開(kai),使繞組上殘存(cun)的靜(jing)電(dian)荷放盡(jin),以保證安全。
賀德克 HAD7446-A-400-000,400bar,4-20mA,10-30VDC,帶配套插(cha)頭(tou)
賀德克 HAD4445-A-400-Y00,400bar,8-30VDC,帶配套(tao)插頭
賀德克 EDS3446-3-250-Y00+ZBE06+ZBM3000DC24V4-20mA,DC24V4-20mA
賀德克(ke) EDS3446-3-400-Y00+ZBE06+ZBM3000DC24V4-20mA,DC24V4-20mA
賀德克(ke) M91C46-1-0250-G(000)+4008+ZMD-41,DC24V
賀(he)德克 M91C48-5-0250-G(000)+5008+ZMD-41,DC24V,4-20mA
賀德克(ke) HAD-4840-A-400-424帶插頭(tou)
IFM 05D100
WCS-IS311 P+F
HYDAC WSM06020Z-01-C-N-110DG
HYDAC WSM06020YR-01-C-N-110DG
HYDAC WS08Z-01-C-N-24DG.56
HYDAC WS08YR-01-C-N-24DG5
ATOS HZMO-A-030/315 40
日本瀧源KC-1275-B-6
日本瀧源KC-1275-B-4
ASCO EF8320G200 DC24V
MEGGER直流電阻測試儀技術參數參照